【明報專訊】城大團隊自行設計及研發出全球首部結合掃描及透射模式的新一代電子顯微鏡，檢測時可同時看到樣本的表面及穿透部分，其分辨率亦可達到納米級。團隊表示，該電子顯微鏡主要可應用於工業及醫學等領域，未來計劃優化其內部系統，以用於多領域的檢測及研究。